Koen Verhaege: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (11)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

Novel fully silicided ballasting and MFT design techniques for ESD protection in advanced deep sub-micron CMOS technologies

Koen G Verhaege, Christian C Russ

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 747 KB

english, 2001

2

ESD protection solutions for high voltage technologies

Bart Keppens, Markus P.J. Mergens, Cong Son Trinh, Christian C. Russ, Benjamin Van Camp, Koen G. Verhaege

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 729 KB

english, 2006

3

Novel design of driver and ESD transistors with significantly reduced silicon area

Koen G Verhaege, Markus Mergens, Christian Russ, John Armer, Phillip Jozwiak

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 772 KB

english, 2002

4

High holding current SCRs (HHI-SCR) for ESD protection and latch-up immune IC operation

Markus P.J. Mergens, Christian C. Russ, Koen G. Verhaege, John Armer, Phillip C. Jozwiak, Russ Mohn

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 576 KB

english, 2003

5

Component level ESD testing

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 476 KB

english, 1998

6

ESD protection elements during hbm stress tests—further numerical and experimental results

Christian Russ, Horst Gieser, Koen Verhaege

Журнал:

Quality and Reliability Engineering International

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 856 KB

english, 1995

7

The ESD protection mechanisms and the related failure modes and mechanisms observed in SOI snapback nMOSFET's

Koen Verhaege, Guido Groeseneken, Jean-Pierre Colinge, Herman E. Maes

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 504 KB

english, 1995

8

Editorial

Koen G. Verhaege

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 23 KB

english, 2001

9

A compact model for the grounded-gate nMOS transistor behaviour under CDM ESD stress

Christian Russ, Koen Verhaege, Karlheinz Bock, Philippe J. Roussel, Guido Groeseneken, Herman E. Maes

Журнал:

Journal of Electrostatics

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.55 MB

english, 1998

10

Analysis of HBM ESD testers and specifications using a fourth-order lumped element model

Koen Verhaege, Philippe J. Roussel, Guido Groeseneken, Herman E. Maes, Horst Gieser, Christian Russ, Peter Egger, Xaver Guggenmos, Fred G. Kuper

Журнал:

Quality and Reliability Engineering International

Рік:

1994

Мова:

english

Файл:

PDF, 876 KB

english, 1994

11

[IEEE 2004 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - Grapevine, TX, USA (2004.09.19-2004.09.23)] 2004 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium - ESD protection solutions for high voltage technologies

Keppens, Bart, Mergens, Markus P.J., Trinh, Cong Son, Russ, Christian C., Van Camp, Benjamin, Verhaege, Koen G.

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 323 KB

english, 2004